一款功能强大且灵活的光谱仪，可放在您的手掌中。
技术信息
描述 | 标准 （STD） | 分辨率 （RES+） | ||||
UV-Vis-NIR | UV-Vis | Vis-NIR | UV-Vis-NIR | UV-Vis | Vis-NIR | |
运行范围 | 185-1100 nm | 185-900 nm | 360-1100 nm | 185-1100 nm | 185-900 nm | 360-1100 nm |
狭缝尺寸 | 25 μm （通用） | 10 μm （通用） | ||||
光栅 | G-UV-Vis-NIR | G-UV-Vis | G-Vis-NIR | G-UV-Vis-NIR | G-UV-Vis | G-Vis-NIR |
集像镜头 | 可选（包含在改进的灵敏度版本中） | |||||
探测器 | 2048-元件索尼 | 3648-元件东芝 | ||||
光学分辨率 | 1.7 nm (25 um 狭缝) | 1.4 nm (25 um 狭缝) | 1.4 nm (25 um 狭缝) | 0.75 nm (10 um 狭缝) | 0.6 nm (10 um 狭缝) | 0.6 nm (10 um 狭缝) |
光纤接头 | SMA 905 | |||||
积分时间 | 2 ms - 214 Sec. | 3 ms - 214 Sec. | ||||
接口 | 迷你 USB | |||||
触发 | 进/出 | |||||
软件 | LightScan 2.0（随附） | |||||
尺寸 | 100 mm (L) x 89 mm (D) x 42 mm (H) | |||||
重量 | 450 g | |||||
典型应用
FLEX 是一款入门级光谱仪，具有卓越的性能和创新的设计，可完美满足您对吸光度、透射率、反射率和荧光测量的所有要求。
用户可更换狭缝和光学滤光片的多功能性使您可以将 FLEX 设置为高发射荧光测量。
该系统灵活性大，灵敏度高，是基础研究和科学发现领域中各种光谱行业和学科的终极解决方案。
订购信息
描述 | 零件编号 | |
基础 | 高灵敏度 | |
光谱仪 FLEX STD UV/Vis/NIR | FLEX-STD-UV-Vis-NIR | FLEX-STD-UV-Vis-NIR-IS |
光谱仪 FLEX STD UV/Vis | FLEX-STD-UV-Vis | FLEX-STD-UV-Vis-IS |
光谱仪 FLEX RES+ UV/Vis/NIR | FLEX-STD-Vis-NIR | FLEX-STD-Vis-NIR-IS |
光谱仪 FLEX RES+ UV/Vis | FLEX-RES-UV-Vis-NIR | FLEX-RES-UV-Vis-NIR-IS |
光谱仪 FLEX RES+ Vis/NIR | FLEX-RES-UV-Vis | FLEX-RES-UV-Vis-IS |
光谱仪 FLEX STD Vis/NIR | FLEX-RES-Vis-NIR | FLEX-RES-Vis-NIR-IS |
用户自定义光谱仪
FLEX 光谱仪采用自建配置，具有最大的灵活性。通过选择光学工作台的每个组件（包括入口狭缝、滤光片、衍射光栅、收集透镜和探测器），您可以优化 FLEX 的工作光谱范围、光学分辨率和灵敏度等参数，从而理想地满足您的应用需求。
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