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DR Beam'R2 XY 扫描狭缝光束分析仪
发布时间: 2024-05-23 15:36
特征
190 至 1150 nm，硅检测器
650 至 1800 nm，InGaAs 探测器
1000 至 2300 或 2500 nm，InGaAs（扩展）检测器
光束直径 5 µm 至 4 mm
0.1 µm 采样和分辨率
线性和对数 XY 轮廓，质心
轮廓缩放和狭缝宽度补偿
M² 选项 – 光束传播分析、发散、聚焦
应用
激光打印和打标
医用激光器
二极管激光系统
光纤电信组件聚焦——用于重新成像波导和光纤末端的 LensPlate2™ 选项
开发、生产、现场服务
连续波；脉冲激光，Φ µm ≥ [500/(PRR in kHz)]
使用可用的 M2DU 平台进行 M² 测量
| 规格 | 细节 |
|---|---|
| 波长 | Si 检测器：190 至 1150 nm InGaAs 检测器：650 至 1800 nm Si + InGaAs 检测器：190 至 1800 nm Si + InGaAs（扩展）检测器：190 至 2300 或 2500 nm |
| 扫描光束直径 | Si 检测器：5 µm 到 4 mm，到 2 µm，刀刃模式 InGaAs 检测器：10 µm 到 3 mm，到 2 µm，刀口模式 InGaAs（扩展）检测器：10 µm 到 2 mm，到 2 µm，刀刃模式刀口模式 |
| Beam Waist 直径测量 | 符合 ISO 11146 的二阶矩 (4s) 直径；适合的 Gaussian 和 TopHat 1/e² (13.5%) 宽度 用户可选择的峰值百分比 Knife-Edge 模式适用于非常小的光束 |
| 测量源 | 连续波；脉冲激光，Φ µm ≥ [500/(PRR in kHz)] |
| 分辨率精度 | 0.1 µm 或扫描范围的 0.05% ± < 2% ± = 0.5 µm |
| 最大功率和辐照度 | 1 W 总计 & 0.5 mW/µm² |
| 增益范围 | 1,000:1 切换；4,096:1 ADC 范围 |
| 显示的图形 | XY 位置和轮廓，缩放 x1 到 x16 |
| 更新率 | ~5赫兹 |
| 通过/失败显示 | 屏幕上可选择的通过/失败颜色。质量保证和生产的理想选择。 |
| 平均值 | 用户可选择的运行平均值（1 到 8 个样本） |
| 统计数据 | 最小值、最大值、平均值、标准偏差 长时间记录数据 |
| XY 轮廓和质心 | Beam Wander 显示和记录 |
| 最低电脑要求 | Windows、2 GB RAM、USB 2.0/3.0 端口 |
▼ 电话：010-64936494 ▼ 邮箱：sales@lier-opto.com ▼
