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SN SILVER-Nova 宽谱 TE 冷却光谱仪
    发布时间: 2024-05-25 17:33    

190-1100nm 范围内的测量

分辨率 1nm，25um 狭缝

功能全面的光谱仪

适用于低光应用的最高灵敏度

TE Cooler 可在长时间曝光下将 S/N 提高 65%

带有光学透镜组件的紫外线增强型 CCD 检测器

TEC-X2 2 级 TEC，用于 -30 度冷却和 80% 降噪

可互换的狭缝升级选项


SILVER-Nova是最全面的光谱仪选择，可为 190-1110nm 波长范围内的众多光谱应用提供研究级结果。


复合光栅技术可在紫外和近红外光谱极端情况下提供高效率。

卓越的检测器灵敏度 –具有集成 TE 冷却器、增益增强和光学透镜组件的紫外线增强型 CCD 检测器可实现无与伦比的灵敏度，长时间曝光时噪声降低 65% 以上。

高分辨率——SILVER-Nova 光学设计的进步提供 1nm 分辨率和 25um 狭缝。此外，金属外壳坚固耐用且结构紧凑，可用于便携式、工艺或实验室环境。

包括 TEC 和 TEC-X2 升级功能 -光学外壳包括密封和隔离的探测器外壳，带有专门的散热器和气流设计，以增加稳定性和冷却操作。热电探测器冷却提高了探测器在长时间测量中的稳定性，因为热噪声会扭曲和覆盖信号。标准 SILVER-Nova 包括 -15 度的 1 级 TEC 和升级到低于环境温度 -30 度的 2 级 TEC-X2 的选项；这通过在长时间曝光下将噪声降低 80% 以上，大大提高了仪器的 S/N。

可互换的狭缝升级选项- 修改光谱仪的光具座输入（新的或旧的）允许访问可更换的狭缝。包括 14、25、50、100、200um 狭缝一包。14um 用于最佳分辨率，200um 用于高灵敏度应用。新的狭缝锁定技术意味着无需硬件或螺丝刀即可创建地球上最灵活的光谱仪解决方案。

坚固 -  可拆卸的光谱仪组件和控制电子设备被保护在坚固的金属外壳内，适用于便携式、过程、实验室和现场应用。

具有预设校准和光谱仪设置的板载内存 以及快照内存，可提供来自 2048 的高灵敏度 CCD 的瞬时光谱图像。

高速电子接口可以直接连接到计算机的 USB 端口以进行高速数据传输。提供 Wifi/以太网通信选项以及其他接口。

SILVER-Nova 技术规格

动态范围：2000:1 with 6 decades
光学分辨率：1nm 带 25um 狭缝
探测器类型：2048 像素 CCD/CMOS TE 冷却
检测范围：190-1110nm
像素大小：14 x 200um (CMOS/CCD)
衍射光栅：Dual Blaze @250 &1000nm
光栅g/mm：全息600线
光谱：f/4，高分辨率 SymX-Czerny-Turner
滤光片：集成和高通
信噪比：1000:1
位数：16 位
尺寸：6 x 17 x 15.5 厘米
TEC功耗：5 VDC@1A 适配器，已包含
接口选项：USB2 或 Wifi (2)、RS232 (3)、SPI3、4-20mA (3) 数字 I/O (3) 或以太网 (3)
数据传输速度：30Hz 或 1000Hz (1)
狭缝尺寸选项：14、25、50、100、200um 或可互换升级
杂散光：<0.1% 在 435nm; <0.15% 在 200nm
光纤输入：SMA-905 0.22na单纤
操作系统：Windows 和 Linux (2)、Andriod (2)、iOS (2)
软件包括：SpectraWiz 程序、WinSDK（C、C#、VB、Delphi）、可定制的 LabVIEW、VBA for Excel（CRI 和 LED 报告）