- 低暗噪声和杂散光
- 直接到狭缝或通过光纤的灵活光学输入
- 高速数据采集
- 标准设计允许高达 200 - 1050 nm范围
- USB 1.1 / 2.0 接口16 位
- 支持多达 8 个 USB 多通道配置
-新的紫外线增强涂层
新型 SM245 高速 2048 像素阵列 CCD 光谱仪。由于SM245电子板的增强设计，暗电流噪声水平以及数据采集速度都有所提高。基于 SP 的特殊光学平台设计，它支持许多需要光谱或颜色测量的不同应用，包括高速数据采集。SM245 可以直接通过其内置狭缝或通过光纤接收光线。SM245 坚固耐用的铝制外壳可在很宽的温度范围内提供稳定的光具座操作。
CCD 上应用了新的紫外线增强涂层，与广泛用于 CCD 光谱仪的传统紫外线涂层相比，提高了 450nm 以下的紫外线灵敏度。借助这种新型 UV 涂层，500nm 以下的信号灵敏度通常可以提高约 20-50%。软件支持包括用于专用应用程序开发的 SDK 和 DLL 以及基于 Windows 的 SM32Pro 光谱采集和分析软件。
型号 | SM 245 |
探测器 | 索尼 ILX511 CCD
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光谱分辨率 | 0.25 到 10nm， 取决于狭缝和光栅的选择 |
光谱范围 | 200 - 1050nm |
光谱仪 f# | 2.7 |
光纤耦合器 | SMA 905 或 FC 标准 |
杂散光 | < 0.05% @632nm (< 0.1% 平均) |
暗噪声 RMS | < 35 RMS 计数，16 位 @35ms 积分时间 |
信噪比 | > 300 : 1 |
最小积分时间 | 1毫秒 |
触发方式 | 自由运行模式 |
滤光片 | 每个波长覆盖范围安装长通滤光片或线性可变滤光片 |
计算机接口 | USB 1.1 / 2.0 16-bit（最多支持8个多通道配置） |
软件 | Windows 98/Me/2000/XP/VISTA/Win7/Win8.1/Win10（32/64位） SM32Pro 和 SM32Pro MX（随光谱仪免费提供） |
尺寸（英寸） | 3.54H x 2.76W x 1.73D 英寸 |
重量 | 0.9磅 |
狭缝选项 | 5、10、25、50、100、200、400um |
温度引起的位移 | ± 1 像素 × ± 15 °C 可根据要求提供较低的热膨胀选项 |
▼ 电话：010-64936494 ▼ 邮箱：sales@lier-opto.com ▼
