- 宽光谱范围(高达 200 - 1050nm)
- 3K 阵列 CCD 的高光学分辨率
- 高达 10 微秒的极低光曝光时间
- 紧凑和模块化设计
SM445 是一种新型紧凑型 CCD 光谱仪,可与 PC 配合使用。
基于 SP 的特殊光学平台设计,它支持许多需要光谱或颜色测量的不同应用,包括高动态范围应用。SM445 可以直接通过其内置狭缝或通过光纤接收光。
SM445 坚固耐用的铝制外壳可在很宽的温度范围内提供稳定的光具座操作。使用的标准传感器阵列是用于 SM445 的 Toshiba TCD1304。阵列驱动器电子设备专为高度灵敏而稳定的操作而设计。该阵列(结合我们的特殊 UV 涂层工艺和定制的排序过滤器)允许从 200nm 到 1050nm 的高达 850nm 的测量窗口(较小的测量窗口尺寸可提高光谱分辨率和光灵敏度)。
由于像素数更多,SM445 更适合需要更高分辨率的应用。SM445 的标准接口是具有 16 位扩展动态范围的 USB 1.1/2.0 兼容接口。我们的 USB 板可以支持多达 8 个多通道配置。通过这种多通道配置,可以为宽范围或双光谱仪系统(一个用于测量,另一个用于参考)提供更高的分辨率。在 CCD 上应用了新的紫外线增强涂层,与广泛用于 CCD 光谱仪的传统紫外线涂层相比,提高了 450nm 以下的紫外线灵敏度。借助这种新型 UV 涂层,500nm 以下的信号灵敏度通常可以提高约 20 50%。软件支持包括用于专用应用程序开发的 SDK 和 DLL 以及基于 SM32Pro Windows 的光谱采集和分析软件。
型号 | SM 445 |
探测器 | 东芝 TDC 1304 CCD
|
光谱分辨率 | 0.10 到 10nm ,取决于光谱范围、狭缝宽度、光纤直径 |
光谱范围 | 200 - 1050nm |
光谱仪 f# | 2.7 |
光纤耦合器 | SMA 905 或 FC 标准 |
杂散光 | < 0.05% @632nm (< 0.1% 平均) |
暗噪声 RMS | < 50 RMS 计数,16 位 @35ms 积分时间 |
信噪比 | > 300 : 1 |
最小积分时间 | 1 毫秒(通用模式)/ 10 微秒(快门模式) |
触发方式 | 自由运行模式 |
滤光片 | 每个波长覆盖范围安装长通滤光片或线性可变滤光片 |
计算机接口 | USB 1.1 / 2.0 16-bit(最多支持8个多通道配置) |
软件 | Windows XP/VISTA/Win7(32/64bit)/Win10(32/64bit) 包含 SM32Pro(随光谱仪免费提供) |
尺寸(英寸) | 3.54H x 2.76W x 1.73D 英寸 |
重量 | 0.88 磅 |
狭缝选项 | 5、10、25、50、100、200、400um |
温度引起的位移 | < 2 像素/± 15°C 可根据要求提供较低的热膨胀选项 |
▼ 电话:010-64936494 ▼ 邮箱:sales@lier-opto.com ▼