SP SM445 高分辨率 CCD 光谱仪
    发布时间: 2024-05-06 15:16    

- 宽光谱范围(高达 200 - 1050nm)

- 3K 阵列 CCD 的高光学分辨率

- 高达 10 微秒的极低光曝光时间

- 紧凑和模块化设计


SM445 是一种新型紧凑型 CCD 光谱仪,可与 PC 配合使用。

基于 SP 的特殊光学平台设计,它支持许多需要光谱或颜色测量的不同应用,包括高动态范围应用。SM445 可以直接通过其内置狭缝或通过光纤接收光。

SM445 坚固耐用的铝制外壳可在很宽的温度范围内提供稳定的光具座操作。使用的标准传感器阵列是用于 SM445 的 Toshiba TCD1304。阵列驱动器电子设备专为高度灵敏而稳定的操作而设计。该阵列(结合我们的特殊 UV 涂层工艺和定制的排序过滤器)允许从 200nm 到 1050nm 的高达 850nm 的测量窗口(较小的测量窗口尺寸可提高光谱分辨率和光灵敏度)。

由于像素数更多,SM445 更适合需要更高分辨率的应用。SM445 的标准接口是具有 16 位扩展动态范围的 USB 1.1/2.0 兼容接口。我们的 USB 板可以支持多达 8 个多通道配置。通过这种多通道配置,可以为宽范围或双光谱仪系统(一个用于测量,另一个用于参考)提供更高的分辨率。在 CCD 上应用了新的紫外线增强涂层,与广泛用于 CCD 光谱仪的传统紫外线涂层相比,提高了 450nm 以下的紫外线灵敏度。借助这种新型 UV 涂层,500nm 以下的信号灵敏度通常可以提高约 20 50%。软件支持包括用于专用应用程序开发的 SDK 和 DLL 以及基于 SM32Pro Windows 的光谱采集和分析软件。


型号

SM 445

探测器

东芝 TDC 1304 CCD

像素:3648(有效)
传感像素尺寸:8µm x 200µm
井深:100,000 e-

光谱分辨率

0.10 到 10nm ,取决于光谱范围、狭缝宽度、光纤直径

光谱范围

200 - 1050nm

光谱仪 f#

2.7

光纤耦合器

SMA 905 或 FC 标准

杂散光

< 0.05% @632nm (< 0.1% 平均)

暗噪声 RMS

< 50 RMS 计数,16 位 @35ms 积分时间

信噪比

> 300 : 1

最小积分时间

1 毫秒(通用模式)/ 10 微秒(快门模式)

触发方式

自由运行模式
软件触发模式
外部触发模式

滤光片

每个波长覆盖范围安装长通滤光片或线性可变滤光片

计算机接口

USB 1.1 / 2.0 16-bit(最多支持8个多通道配置)

软件

Windows XP/VISTA/Win7(32/64bit)/Win10(32/64bit)

包含 SM32Pro(随光谱仪免费提供)
包含 DLL 库和 SDK,可轻松进行自定义应用程序开发

尺寸(英寸)

3.54H x 2.76W x 1.73D 英寸

重量

0.88 磅

狭缝选项

5、10、25、50、100、200、400um

温度引起的位移

< 2 像素/± 15°C

可根据要求提供较低的热膨胀选项