- 科学级的高性能
- 低暗噪声和杂散光
- 良好的动态范围和高原始噪声比
- 高紫外量子效率
- 灵活的光输入直接到狭缝或通过光纤
- 专为广泛的应用而设计
- 高速数据采集
- 标准设计允许高达 200 - 1050 nm范围
- 黑暗条件下的自动快门
新型 SM642 非 TE 冷却 Back-thinned 2048 像素阵列 CCD 光谱仪。
SM642 在紫外线和高动态范围内提供高量子效率。SM642 中使用的检测器具有 2048 像素,有助于获得更好的分辨率。它非常适合需要高信噪比和/或高动态范围的 UV/VIS/NIR 光谱分析。背面做薄的 CCD 对紫外线具有出色的灵敏度,并允许深紫外线应用,甚至低于 200 nm。
精心设计的外壳可提供从 200nm 到 1050nm 的宽测量窗口(较小的测量窗口尺寸可提高光谱分辨率和光灵敏度)和低杂散光。SM642 的标准接口是 16 位 USB 1.1/2.0 兼容接口。
型号 | SM642 |
探测器 | Hamamatsu S10420-1106 非 TE 冷却 Back-thinned 型 CCD
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光谱分辨率 | 0.25 到 7nm 取决于狭缝和光栅选择 |
光谱范围 | 200 - 1050nm |
光谱仪 f# | 3.3 |
光纤耦合器 | SMA 905 或 FC 标准 |
杂散光 | < 0.01% @632nm (< 0.05% 平均) |
暗噪声 RMS | < 9 RMS 计数,16 位 @35ms 积分时间 |
信噪比 | > 450 : 1 |
最小积分时间 | 7ms |
触发方式 | 自由运行模式 |
滤光片 | 每个波长覆盖范围安装长通滤光片或线性可变滤光片 |
计算机接口 | USB 1.1 / 2.0 16-bit (0 - 65535) 支持多达 8 个多通道配置 |
软件 | Windows 98/Me/2000/XP/VISTA/Win7/Win8.1/Win10(32/64位) SM32Pro 和 SM32Pro MX(随光谱仪免费提供) |
尺寸(英寸) | 5.98H x 3.94W x 2.50D 英寸 |
重量 | 2.7 磅 |
狭缝选项 | 10、25、50、100、200 和 400µm |
温度引起的位移 | ±1 像素/±15°C |
▼ 电话:010-64936494 ▼ 邮箱:sales@lier-opto.com ▼