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SP SM303 TE 冷却二维 CCD 光谱仪
    发布时间: 2024-05-06 15:16    

- 科学级高性能
- 极低的暗噪声和杂散光
- 宽动态范围和高信噪比
- 高紫外量子效率
- 灵活的光输入直接到狭缝或通过光纤
- 高速数据采集
- 标准设计允许高达 200 - 1050 nm的范围
- 新升级具有适用于黑暗条件的自动快门

新型 SM303 TE 冷却 Back-thinned 1024 像素阵列 CCD 光谱仪。

SM303 非常适合需要非常高的信噪比和/或高动态范围的 UV/VIS/NIR 光谱，如荧光、Rama、LED 属性测试应用。背面做薄的 CCD 对紫外线具有出色的灵敏度，并允许深紫外线应用。

精心设计的外壳允许从 200nm 到 1050nm 的高达 850nm 的测量窗口（较小的测量窗口尺寸可提高光谱分辨率和光灵敏度），并且杂散光非常低。

TE 冷却检测器还有助于通过降低长积分时间内的噪声水平来测量非常低的光信号。由于高动态范围和低噪音，SM303 也是辐射测量应用的理想选择。SM303-Si 的标准接口是 USB 1.1/2.0 兼容 16 位接口。软件支持包括用于专用应用程序开发的 SDK 和 DLL 以及基于 Windows 的 SM32Pro 光谱采集和分析软件。全新升级的 SM303 提供自动快门功能，可自动制作黑暗环境。用户无需遮挡任何输入光即可设置 0% 透射（暗扫描）。


型号

SM 303

探测器

滨松 S7031-1006 Back-thinned 型 CCD

像素：1044 x 64（活动：1024 x 58）
传感像素尺寸：24µm 24µm
灵敏度：~ 0.065 counts/e-
井深：300Ke-（垂直）600Ke-（水平）
量子效率：> 90% @66 @250nm
冷却：一级 TE 冷却 (-10°C)

光谱分辨率

0.15 到 10nm 取决于狭缝和光栅的选择

光谱范围

200 - 1100nm

光谱仪 f#

3.3

光纤耦合器

SMA 905 或 FC 标准

杂散光

< 0.05% 平均

暗噪声 RMS

< 2 RMS 计数，16 位 @35ms 积分时间

信噪比

> 1000 : 1

最小积分时间

7ms

触发方式

自由运行模式
软件触发模式
外部触发模式（9 针连接器）
TTL 边沿触发输入/用于监控的数字输出

滤光片

每个波长覆盖范围安装长通滤光片或线性可变滤光片

计算机接口

USB 1.1 / 2.0 16-bit (0 - 65535), 支持多达 8 路多通道配置

软件

Windows XP/VISTA/Win7, 8.1, 10 (32/64bit)
SM32Pro & SM32Pro MX（光谱仪免费）

包括 DLL 库和 SDK，可轻松进行自定义应用程序开发

尺寸（英寸）

9.13H x 5.12W x 3.56D 英寸

重量

7磅

狭缝选项

10、25、50、100、200 和 400µm

TE 冷却温度

-10°C