- 新升级+更低的价格
- 科学级的高性能
- 极低的暗噪声和杂散光
- 宽动态范围和高信噪比
- 高稳定性
- 灵活的光输入直接到狭缝或通过光纤
- 高速数据采集
- 900 - 2500 nm 的各种 NIR/SWIR 范围
- 黑暗条件下的自动快门
新型 SM304 TE 冷却 InGaAs 阵列光谱仪。
SM304 系列非常适合需要非常高的信噪比和/或高动态范围的 NIR/SWIR 光谱。SM304 系列的高性能和低噪音水平使其能够应用于非常苛刻的应用中。SM304 系列中使用的探测器具有良好的灵敏度，可用于各种宽带应用，例如在 NIR/SWIR 范围内测量各种样品的光学特性、分析化学品/水分检测以及窄带应用，例如 NIR/SWIR 激光表征.。
SM304系列的标准接口是16位USB 1.1/2.0兼容接口。软件支持包括用于专用应用程序开发的 SDK 和 DLL 以及基于 Windows 的 SM32Pro 光谱采集和分析软件。全新升级的 SM304 提供自动快门功能，可自动制作黑暗环境。用户无需遮挡任何输入光即可设置 0% 透射（暗扫描）。
型号 | SM304-512 | SM304-512-2.2 | SM304-512-2.5 | SM304-256-2.1 | SM304-256-2.5 |
探测器 | G9204-512 | G9206-512 | G9208-512 | G9206-256 | G9208-256 |
光谱响应范围 (µm) | 0.9 - 1.7 | 0.9 - 2.2 | 0.9 - 2.5 | 0.9 - 2.05 | 0.9 - 2.5 |
像素大小 | 25 x 500µm | 25 x 250 微米 | 25 x 250 微米 | 50 x 500µm | 50 x 500µm |
光学分辨率 | 整体 >3nm | 整体 >5nm | >6.5nm 整体 | 整体 >7nm | 整体 >9nm |
信噪比 | >15,000:1 @100ms | >10,000:1 @100ms | >10,000:1 @100ms | >10,000:1 @100ms | >7,500:1 @100ms |
暗读出噪声 RMS* | 10RMS @100ms | 10RMS @100ms | 20RMS @10ms | 10RMS @100ms | 12RMS @10ms |
光谱仪 f# | 3.3 |
光纤耦合器 | SMA905 或 FC 标准 |
杂散光 | < 0.01% @632nm (< 0.05% 平均) |
最小整合时间 | 1ms |
触发方式 | 自由运行模式 |
滤光片 | 每个波长覆盖范围安装长通滤光片或线性可变滤光片 |
计算机接口 | USB 1.1 / 2.0 16-bit (0 - 65535)，最多支持8个多通道配置 |
软件 | Windows XP/VISTA/Win7, 8.1, 10 (32/64bit) 包括 DLL 库和 SDK，可轻松进行自定义应用程序开发 |
尺寸（英寸） | 6.81H x 4.72W x 2.95D 英寸 |
重量 | 4.5 磅 |
狭缝选项 | 10、25、50、100、200 和 400µm |
TE 冷却温度 | -10°C |
▼ 电话：010-64936494 ▼ 邮箱：sales@lier-opto.com ▼
