高分辨率光学平台
科学级高性能
极低的暗噪声和杂散光
宽动态范围和高信噪比
高紫外线量子效率
灵活的光输入直接到狭缝或通过光纤
专为广泛的应用而设计
高速数据采集
标准设计允许高达 200 至 1050nm 范围
SM303 非常适合需要非常高的信噪比和/或高动态范围的 UV/VIS/NIR 光谱,如荧光、拉曼、LED 属性测试应用。
背面做薄的 CCD 对紫外线具有出色的灵敏度,并允许深紫外线应用。精心设计的外壳可在 200~1050nm 范围内提供高达 750nm 的测量窗口,以实现 0.2nm 光学分辨率和非常低的杂散光。TE 冷却检测器还有助于通过在较长的积分时间内降低噪声水平来测量非常低的光信号。
型号 | SM303 HRS |
探测器 | 滨松 S7031-1006 Back-thinned 型 CCD
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光谱分辨率 | 0.2 - 7nm FWHM |
光谱范围 | 全范围:200 - 1050nm |
光谱仪 f# | 3.3 |
光纤耦合器 | SMA905 或 FC 标准 |
杂散光 | < 0.01% @632nm (< 0.05% 平均) |
暗噪声 RMS | < 2 RMS 计数@35ms |
信噪比 | 1000 : 1 |
最小积分时间 | 7ms |
触发方式 | 自由运行模式 |
滤光片 | 每个波长覆盖范围安装长通滤光片或线性可变滤光片 |
计算机接口 | USB 1.1 / 2.0 兼容 |
SDK支持 | Visual C++、Visual Basic、LabView、Matlab |
尺寸 | 9.25 x 6.95 x 3.75 英寸 (23.5 x 17.65 x 9.52cm) |
重量 | 8.16 磅 (3.7 公斤) |
狭缝选项 | 10、25、50、100、200 和 400µm |
TE 冷却温度 | -10°C |
▼ 电话:010-64936494 ▼ 邮箱:sales@lier-opto.com ▼