SP SM540 高分辨率光谱仪
    发布时间: 2024-05-06 15:15    

- 直接进入狭缝或通过光纤的光输入
- 允许在 200 - 1050 nm 之间高达 700 nm 的测量窗口中进行更高分辨率的光谱测量,通过将覆盖波长范围缩小一半,将 SM2xx/SM4xx 系列的分辨率提高一倍 
- USB 2.0 接口与 16 - 位动态范围可用
- 支持多达 8 个 USB 多通道配置
-紫外线增强涂层

SM540 是一款基于 CCD 的光谱仪,其分辨率是 SM440 的两倍以上。该分辨率是通过使用超大 (30mm x 30mm) 光学平台组件实现的。这些组件提供的有效准直、光栅和聚焦区域大约是 SM400 和 SM440 中使用的区域的四倍。

与所有光谱仪一样,有效分辨率随着窗口尺寸的减小而增加。100 nm 窗口的分辨率约为 0.05 nm(而 SM400 和 SM440 的分辨率为 0.15 nm)。SM540较大的光具座可以在NIR中具有较窄的窗口尺寸并获得更高的分辨率,这在SM400/SM440等较小的光具座中由于光栅衍射角的限制基本上是不可能的。标准接口包括一个 USB 2. 0 接口和具有 16 位扩展动态范围的 PCI 卡接口。USB 板可以支持多达 8 个多通道配置。通过这种多通道配置,可以实现宽范围的高分辨率或双光谱仪系统(一个用于测量,另一个用于参考)。

CCD 上应用了新的紫外线增强涂层,与广泛用于 CCD 光谱仪的传统紫外线涂层相比,提高了 450nm 以下的紫外线灵敏度。借助这种新型 UV 涂层,500nm 以下的信号灵敏度通常可以提高约 20-50%。软件支持包括用于专用应用程序开发的 SDK 和 DLL 以及基于 Windows 的 SM32Pro 光谱采集和分析软件。

型号

SM540

探测器

东芝 TCD 1304

像素:3648
传感像素尺寸:8µm x 200µm
灵敏度:160 V/(lx s) 在日光荧光照明下

光谱分辨率

0.1 到 10nm 取决于狭缝和光栅的选择

光谱范围

200 - 1050nm

光谱仪 f#

3.9

光纤耦合器

SMA 905 或 FC 标准

杂散光

0.1% 整体

狭缝选项

5, 10, 25, 50, 100, 200, 400µm

滤光片

每个波长覆盖范围安装长通滤光片或线性可变滤光片

计算机接口

USB 1.1 / 2.0 16-bit 500KHz(最多支持8个多通道配置)

软件

Windows 98/Me/2000/XP/VISTA/Win7/Win8.1/Win10(均
32/64位)SM32Pro 和 SM32Pro MX(光谱仪免费)
包括 DLL 库和 SDK,便于自定义应用程序开发

尺寸

7 x 6.75 x 3 英寸

(17.78 x 17.15 x 7.62 厘米)

重量

4.0 磅

暗噪声 RMS

< 50 RMS 计数,16 位 @35 毫秒积分时间

信噪比

250:1

最小积分时间

0.01 毫秒

触发方式

自由运行模式
外部触发模式