- 直接进入狭缝或通过光纤的光输入
- 允许在 200 - 1050 nm 之间高达 700 nm 的测量窗口中进行更高分辨率的光谱测量,通过将覆盖波长范围缩小一半,将 SM2xx/SM4xx 系列的分辨率提高一倍
- USB 2.0 接口与 16 - 位动态范围可用
- 支持多达 8 个 USB 多通道配置
-紫外线增强涂层
SM540 是一款基于 CCD 的光谱仪,其分辨率是 SM440 的两倍以上。该分辨率是通过使用超大 (30mm x 30mm) 光学平台组件实现的。这些组件提供的有效准直、光栅和聚焦区域大约是 SM400 和 SM440 中使用的区域的四倍。
与所有光谱仪一样,有效分辨率随着窗口尺寸的减小而增加。100 nm 窗口的分辨率约为 0.05 nm(而 SM400 和 SM440 的分辨率为 0.15 nm)。SM540较大的光具座可以在NIR中具有较窄的窗口尺寸并获得更高的分辨率,这在SM400/SM440等较小的光具座中由于光栅衍射角的限制基本上是不可能的。标准接口包括一个 USB 2. 0 接口和具有 16 位扩展动态范围的 PCI 卡接口。USB 板可以支持多达 8 个多通道配置。通过这种多通道配置,可以实现宽范围的高分辨率或双光谱仪系统(一个用于测量,另一个用于参考)。
CCD 上应用了新的紫外线增强涂层,与广泛用于 CCD 光谱仪的传统紫外线涂层相比,提高了 450nm 以下的紫外线灵敏度。借助这种新型 UV 涂层,500nm 以下的信号灵敏度通常可以提高约 20-50%。软件支持包括用于专用应用程序开发的 SDK 和 DLL 以及基于 Windows 的 SM32Pro 光谱采集和分析软件。
型号 | SM540 |
探测器 | 东芝 TCD 1304
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光谱分辨率 | 0.1 到 10nm 取决于狭缝和光栅的选择 |
光谱范围 | 200 - 1050nm |
光谱仪 f# | 3.9 |
光纤耦合器 | SMA 905 或 FC 标准 |
杂散光 | 0.1% 整体 |
狭缝选项 | 5, 10, 25, 50, 100, 200, 400µm |
滤光片 | 每个波长覆盖范围安装长通滤光片或线性可变滤光片 |
计算机接口 | USB 1.1 / 2.0 16-bit 500KHz(最多支持8个多通道配置) |
软件 | Windows 98/Me/2000/XP/VISTA/Win7/Win8.1/Win10(均 |
尺寸 | 7 x 6.75 x 3 英寸 (17.78 x 17.15 x 7.62 厘米) |
重量 | 4.0 磅 |
暗噪声 RMS | < 50 RMS 计数,16 位 @35 毫秒积分时间 |
信噪比 | 250:1 |
最小积分时间 | 0.01 毫秒 |
触发方式 | 自由运行模式 |
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