- 高分辨率光学平台
- 低成本的科学级高性能
- 低暗噪声和杂散光
- 良好的动态范围和高信噪比
- 高紫外量子效率
- 灵活的光输入直接到狭缝或通过光纤
- 适用于广泛的应用
- 高速数据采集
- 标准设计允许高达 200 - 1050 nm范围
新型 SM642 非 TE 冷却 Back-thinned 2048 像素阵列 CCD 光谱仪。
SM642-HRS 在紫外线和高动态范围内提供高量子效率。SM642 HRS 中使用的探测器有 2048 个像素,有助于获得更好的分辨率。它非常适合需要高信噪比和/或高动态范围的 UV/VIS/NIR 光谱分析。背面做薄的 CCD 对紫外线具有出色的灵敏度,并允许深紫外线应用,甚至低于 200 nm。
精心设计的外壳可在 200~1050nm 范围内提供高达 750nm 的测量窗口,以实现 0.2nm 光学分辨率和非常低的杂散光。Back-Thinned 检测器通过在较长的积分时间内降低噪声水平来测量非常低的光信号。
型号 | SM642 HRS |
探测器 | Hamamatsu S10420-1106 非 TE 冷却 Back-thinned型 CCD
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光谱分辨率 | 0.1 - 7.0nm FWHM |
光谱范围 | 全范围:200 - 1050nm UV 范围:200 - 450nm VIS 范围:380 - 760nm NIR 范围:550 - 1050nm |
光谱仪 f# | 3.3 |
光纤耦合器 | SMA 905 或 FC 标准 |
杂散光 | < 0.01% @632nm (< 0.5% 平均) |
暗噪声 RMS | < 7 RMS 计数@35ms |
信噪比 | 450 : 1 |
最小积分时间 | 7ms |
触发方式 | 自由运行模式 |
滤光片 | 每个波长覆盖范围安装长通滤光片或线性可变滤光片 |
计算机接口 | USB 1.1 / 2.0 兼容 |
SDK支持 | Visual C++、Visual Basic、LabView、Matlab |
方面 | 8.66 x 6.89 x 3.36 英寸 (22.0 x 17.5 x 8.55 厘米) |
重量 | 6.61 磅 (3.0 公斤) |
狭缝选项 | 10、25、50、100、200 和 400µm |
温度引起的位移 | ±1 像素/±15°C |
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