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DR BeamMap2 CM 准直扫描狭缝光束分析仪

<h4>特征</h4><p>190 至 1150 nm，硅检测器</p><p>650 至 1800 nm，InGaAs 探测器</p><p>1000 至......</p>

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DR BeamMap2 XYZΘΦ 扫描狭缝光束分析仪

<h4>特征</h4><p>190 至 1150 nm，Si检测器</p><p>650 至 1800 nm，InGaAs 探测器</p><p>1000 ......</p>

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DR Beam'R2 XY 扫描狭缝光束分析仪

<h4>特征</h4><p>190 至 1150 nm，硅检测器</p><p>650 至 1800 nm，InGaAs 探测器</p><p>1000 至......</p>

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DR TaperCamD 大面积 CMOS 光束分析仪

<h4>特征</h4><p>355 至 1150 nm，标准 CMOS 检测器</p><p>4.2Mpixel，2048 x 2048 像......</p>

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DR WinCamD-THz THz 光束分析仪

<h4>特征</h4><p>3 至 20 THz（15 至 100 µm）和 350 至 1150 nm</p><p>2048 ......</p>

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DR WinCamD-QD 量子点 SWIR 光束分析仪

<h4>特征</h4><p>量子点传感器，针对 1550 或 2000 nm 进行了优化<br style="padding: 0px; margin: 0px; outline: 0px; box-sizing: border-box;"/></p><p>涵盖 400 至 1700 nm 或......</p>

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